芯片高低温变温测试台是一款针对芯片、光器件变温性能测试的多功能测试平台，XYZ轴可任意调节，XY轴调节范围0-250mm，轴调节范围0-200mm，控温精度±0.01℃，控温范围-50℃-120℃（非标可定制），触摸屏控制，友好的人机界面，RS232、RS484远程控制接口，无噪声、无振动，升降速率可调。组成部分：半导体冷热台、半导体温度控制器、温控软件、水循环系统（选配）。样品台尺寸 可根据实际要求定制。常规尺寸：从 40*40mm, 50*50mm, 55*55mm到300mm*300mm。形状：圆形，方形等可根据实际需要定制
| 详细资料 | |
| 公司名称 | 武汉光旗电子科技有限公司 |
| 所在地 | 湖北武汉 |
| 企业类型 | 个体经营 |
| 成立时间 | 2018-11-05 |
| 主营行业 | 高温/低温/高低温试验设备 |
| 主营产品 | 芯片高低温变温测试台,半导体蝶形驱动模块 |
| 经营模式 | 生产型 |
| 是否提供OEM | 否 |
| 公司邮编 | 430040 |
