芯片高低温变温测试台是一款针对芯片、光器件变温性能测试的多功能测试平台,XYZ轴可任意调节,XY轴调节范围0-250mm,轴调节范围0-200mm,控温精度±0.01℃,控温范围-50℃-120℃(非标可定制),触摸屏控制,友好的人机界面,RS232、RS484远程控制接口,无噪声、无振动,升降速率可调。组成部分:半导体冷热台、半导体温度控制器、温控软件、水循环系统(选配)。样品台尺寸 可根据实际要求定制。常规尺寸:从 40*40mm, 50*50mm, 55*55mm到300mm*300mm。形状:圆形,方形等可根据实际需要定制
详细资料 | |
公司名称 | 武汉光旗电子科技有限公司 |
所在地 | 湖北武汉 |
企业类型 | 股份有限公司 |
成立时间 | 2018-11-05 |
主营行业 | 高温/低温/高低温试验设备 |
主营产品 | 芯片高低温变温测试台,半导体蝶形驱动模块 |
经营模式 | 贸易型 |
是否提供OEM | 否 |
公司邮编 | 430040 |