供应喷雾全自动激光粒度分析仪LAP-S2000

光路设计： LAP-S2000 采用了夫琅禾费衍射原理和典型的平行光路设计，配备了大功率

的半导体激光器；高密度探测单元，让 LAP-S2000 拥有了小颗粒测试能力，LAP-S2000

在 1μm～2000μm 内无缝测试。同时 LAP-S2000 又加入了光路自动调整装置，方便操作的同时又延长

了仪器的适用寿命。

大功率半导体激光器：LAP-S2000 采用了大功率的半导体激光器，增强了仪器的分辨能力，使

小颗粒也无处藏身。

光路自动校对：LAP-S2000 在喷雾粒度仪中加入了自动对中功能，LAP-S2000 加入的光

路自动调整系统，了仪器测量的稳定性、准确性。同时大量减少操作者的工作强度。

进口镜头：LAP-S2000 采用了日本佳能作为主镜头，畸变小成像高，接收端采用了直径 150 毫米

大口径长焦距镜头，颗粒探测更加准确。

超宽量程：LAP-S2000 量程达到了 1μm～2000μm。

辅光定位：LAP-S2000 加入了辅光定位功能，定位时发射端两束激光同时发出，接收端双点

吻合后接收端即可启动光路自动调整系统，大大简化了调整难度。

强大的分析软件：强大的分析软件可以随时记录所有激光束的内所有雾滴的粒度分布。在激光束

内移动喷雾测试结果可以被连续记录和统计分析。