PCT老化箱(又名PCT高压加速老化试验机)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。
使用注意事项
1、电源设备:应在供电线路中装有超负荷的保险丝装置,供此箱特种,并具有良好接地装置。
2、试料准备:将试品逐一编号后,将试品放置于试品转盘上,彼此以不相互接触和碰撞为宜。
3、待一切准备就绪,即关上箱门。
关闭控制系统各个开关,将电源插扑插上打开电源开关转盘即自动转动,同时控制系统的电源指示灯即亮,若须升温打开开关(即高温开关和低温开关),然后调节全自动控制系统
5、仪器外壳有效接地,以使用安全。
6、仪器应放在通风良好的室内水平位置,在其周围不可放置易燃易爆物品。
7、应在供电线路中安装铁壳的闸刀开关一只,供此箱特种,在外壳接地通电前请检查本箱的电器性能,并应注意是否有断路或漏电现象,本仪器无防爆装置,不得放入易燃易爆物品干燥。
8、箱内物品放置切勿过挤,留出空间,以利热空气循环。
9、非工作人员请匆操作。
自我诊断功能,便于维护
内置自诊断装置可提示操作人员何时应进行例行维护,或对故障进行检查。带有一个个性化的面板控制器,它可使操作人员简单地对复杂的测试程序进行编程。
易于编制循环程序或直接运行Q-FOG自带的测试程序。可以完成许多循环腐蚀试验,如Prohesion试验、ASTM B117、ASTM G85、BS3900 F4和F9、DIN50.907和ISO9227等试验。内置以下全部或部分循环程序:
1、 循环A, ASTM B117(NSS)
2、 循环B, Prohesion
3、 循环C,CCT-1
4、 循环D,CCT-IV
5、 循环E,GM9540P/B
6、 循环F,ASTM B368(CASS)