CSK-IA试块NB/T47013-2015超声波试块

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更新2020-05-26 13:18:27
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CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和长度;2利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力

名称超声波试块
类别特殊无损检测仪器
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