设计亮点
全新的下照式设计,一键式的按钮,让您的鼠标键盘不再成为,大减少您摆放样品的时间。
全新的光路系统,大大减少了光斑的扩散,实现了对较小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头,配合距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,拱形,螺纹,曲面等)的异型测试面的测试。
贵金属检测、镀层厚度检测。
智能贵金属检测软件,与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
技术指标
元素分析范围:从硫(S)到铀(U)。
测量对象:固体、液体、粉末
分析检出限可达:ppm。
分析含量一般为:ppm到99.9%
移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加,微小测试点更。
X射线镀层测厚仪厂家优势在于满足客户要求的情况下,价格更优惠、售后服务更方便,维护成本更低。