测厚仪X射线荧光光谱国产

采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

X荧光镀层测厚仪是一种利用X射线荧光原理测量材料表面镀层厚度的仪器。其原理如下：

1. X射线照射：仪器通过产生X射线，将其照射到待测镀层表面。

2. 荧光发射：X射线照射到镀层表面后，会激发镀层中原子的电子跃迁，使其发生荧光发射。不同原子的荧光发射能谱是不同的，可以通过检测荧光发射的能谱来确定镀层中不同元素的含量。

3. 测量：根据镀层中不同元素的荧光发射能谱及其强度，可以计算出镀层的厚度。

通过这种原理，X荧光镀层测厚仪可以快速、准确地测量各种类型的镀层厚度，是一种常用的表面分析仪器。

XRF镀层测厚仪主要用于以下领域：

1. 金属表面处理工业：用于测量金属表面涂层、镀层的厚度，如镀铬、镀镍、镀锌等。

2. 电子行业：用于测量印刷电路板(PCB)、集成电路等的金属镀层厚度。

3. 汽车行业：用于测量汽车零部件的镀层厚度，如汽车车身、车轮等的防腐涂层。

4. 航空航天工业：用于测量飞机、火箭等航空航天器材上的镀层厚度，确保其质量和安全性。

5. 化工行业：用于测量管道、容器、阀门等设备上的防腐蚀涂层的厚度，保护设备免受腐蚀影响。

总的来说，XRF镀层测厚仪是一种广泛应用于工业生产和质量控制领域的检测设备，能够准确、快速地测量出各种金属表面涂层的厚度，保障产品质量和生产安全。