天瑞XRF光谱仪,天瑞X荧光光谱仪操作简单
性能参数
产品型号：EDX 4500
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
超薄窗X光管，指标达到国际水平
数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
DX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
2020年10月23日，由江苏天瑞仪器股份有限公司（以下简称天瑞仪器）主办的 RoHS2.0及REACH检测技术研讨会在浙江省慈溪市白金汉爵大酒店举行。本次会议力邀了多位行业，为现场来宾深度剖析RoHS和REACH分析检测技术，提供有效的解决方案和技术支撑。来自电子电器设备制造行业多名企业代表参与此次会议，现场气氛十分热烈。
半导体行业从原材料到生产制造都需要应用到分析测试仪器。天瑞仪器作为国内化学分析行业的者，从事光谱仪、色谱仪、质谱仪和环境检测仪器四大系列分析测试仪器的研发、生产、销售与服务。公司产品丰富，可广泛应用于芯片材料检测与质量控制。此次，天瑞仪器展出产品呈现了其在半导体材料领域的技术应用，吸引了多方关注，为半导体产业链的安全提供了技术和产品的保障。
GC-MS 6800是天瑞仪器自主研发的一款气相色谱质谱联用仪，具有完全的自主知识产权，拥有多项专利技术，可广泛应用于工业检测、食品安全、环境保护等众多领域。2019年7月22日，RoHS2.0指令正式实施，GC-MS 6800仪器在RoHS2.0修订指令所涉及的有机物检测领域迎来了新一轮的市场关注度。
