新余供应二手ICT多功能

ATE测试板卡: 安捷伦agilent3070系列
XTP Control card (E9900-66501)
ASRU N Card (N1807-66550)
Hybrid DD pin car (E4000-66550)
泰瑞达Teradynt TS124/128系列 PIN car 、 PIO car、SYSTEM Controoller
检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量，对二极管、三极管、光耦、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试，如所有74系列、Memory 类、常用驱动类、交换类等IC。
它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏，Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路，元件插错、插反、漏装，管脚翘起、虚焊，PCB短路、断线等故障。

ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。

安捷伦ICT更高的测试效率――硅钉测试/边界扫描速度加快 40% 以上，在测试大部分 PCBA 时总体速度加快 6% 以上
向后兼容性尽量缩短安装所需要的停机时间
泰瑞达系统整合DC、AC、Digital I/O等，信号更稳定；
开机系统初始化，测试精度、稳定度
采用信号全数字滤波处理，测试更方便
自我侦测及输出报告 快速测试，满足各种线体需要
分组块测试模式，成倍提高工作效率，节约投资
采用四针六线测试技术，排除引线电阻及探针接触电阻使微电阻测试稳定
电容极性测试技术，可测试电容极性
多管脚器件测量方式，专测多管脚器件
每步高达5针隔离，对元器件隔离测试
8U结构，轻巧稳固，适应需求
完善的自检功能，保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份，保障数据无丢失
可测IC（集成电路）插错、插反，管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能，提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术，可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用，可对元器件进行一致性检测

Teradyne泰瑞达(美国)、Check Sum（美国）、AEROFLEX（美国）、WINCHY莹琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并购)、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系统（台湾）、JET(捷智）、TRI（德律）、SRC星河、安硕（ANSO）、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、PTI等等品牌。不同品牌ICT的测试原理相同或相似。上世纪80年代前后，日本将美国同类产品加以简化和小型化，并改成使用气动压床式，代表的有日本TESCON，OKANO，使得ICT简单易用并低成本，使之成为电子厂不可或缺的检测设备，并迅速推广普及。二手SMT测试设备
销售，回收各品牌二手ICT在线测试仪TRI518SII、
TRI8100LV、TRI5001E、Agilent3070、agilent i1000D
Teradyne ICT和TAKAYA测试飞针各品牌ICT测试配件板卡，
开关板，ATMSMB.DUT.安捷伦agilent3070
XTP control card （E9900-66501）
asru N （N1807-66550）
Hybrid DD pin card（E4000-66550）
泰瑞达： TeradyneTSL124/128 PIN CAR 、
PIO CAR 、System controller
9004-0387 Ultra 124L
9004-0386 Ultra 128L
供工厂ICT测试技术支持，的团队、
质量、技术可靠、售后无忧。支持工厂闲置设备
回收、维修、升级处理，欢迎咨询,24小时在线！

为向用户提供更多 ICT 能力，Keysight 还给Agilent3070配备了从标准边界扫描和连
接测试到互联测试的全部边界扫描能力。这些能力有助于满足制造商对可边界
扫描器件的需要，以及制造商能适应未来对 Intel 基周边控制中心和处理
器增加的需求。
长线 MDA 压着夹具不适合用于数字
测试，这一观点是对还是错?
虽然一般认为这是对的，但 Medalist
Agilent3070 iDEAL 证明这是错的。
Medalis Agilent070 iDEAL 用传统 MDA 型
长线压着夹具执行数字测试。边界扫
描测试，串行编程，基于库的测试
都能无毛刺地运行。使用 MDA 型夹
具，用户现在就有了简单、和低
运行成本的测试解决方案

电源
DUT 电源 0V 至 +20V
0V 至 -14V
高压 DUT 电源 10V 至 +100V
0V 至 -14V
电源通道数
可编程 0 – 5 V @ 20A
可编程 0 –14V @ 10A
可编程 0 – 20V @ 4A
可编程 0 – -14V @ 5A
可编程 10 –100V @ 10mA
常规
两路
无
一路
一路
无
高压
一路
一路
无
一路
一路
N6700 DUT 电源单元 4 x 可编程通道
0 至 50V @ 5A，每一通道
过压保护 有
过流保护 有
系统电源 AC 200V – 240V
10A
夹具
软件规范
操作系统 Windows XP Home Edition
支持语言 英语
简体汉语
繁体汉语
( 支持本地化 )
无矢量测试技术 VTEP v2.0 测试套件 ( 包括 VTEP, iVTEP 和 NPM)
覆盖扩展
Extest Toggle
探针位置图
引脚位置图
器件位置图
探针引脚定位器 带导向探针的引脚定位器
实施产出量显示 运行时的实 FPY ( 一次合格率 ) 显示
产出率增强工具 自动重测试
自动测试周期重复
调试界面 便于选择测试选项的电子表单格式
自动调试 自动调试模拟不加电测试和 VTEP v2.0
扩展能力 达 28 槽的单一模块设计
缺陷消息打印机 使用并行端口 (LPT1) 接口（不包括打印机）
发运和安装帮助 包括 (Keysight 授权代理商 )
电容器放电保护 有
支持的夹具类型 长线压床型