Olympus38DLPLUS总代理

Olympus 38DL PLUS总代理
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38DL-Plus超声波测厚仪美国泛美、日本奥林帕斯生产超神测厚仪探头自动识 大屏幕的LCD,指示所有的测量信息; 公制/英制选择 回波-回波测量模式; 20HZ扫描频率,可大范围扫描,快速测定小值; 可存储95000组厚度数据或1750测量波形; RS-232接口。

38DL-Plus超声波测厚仪特性，特点：
-可与双晶和单晶探头兼容。
-宽泛的厚度测量范围: 0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。
-使用双晶探头进行腐蚀测厚。
-穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
-内部氧化皮/沉积物软件选项。
-对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。
-使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。
-多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
-高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
-厚度、声速和渡越时间测量。
-差分模式和缩减率模式。
-时基B扫描模式; 每次扫查可获得10000个可查读数。
-带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
-用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
-设计符合EN15317标准。

技术参数，测量参数：
双晶探头测量模式 从激励脉冲后的延时到个回波之间的时间间隔。
穿透涂层测量模式
利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度
和涂层厚度。
穿透漆层回波到回波测量模式 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。
单晶探头测量模式
模式1： 激励脉冲与个底面回波之间的时间间隔。
模式2： 延迟线回波与个底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水
浸式探头）。
模式3： 在激励脉冲之后，位于个表面回波后的相邻底面回波之间的时
间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。
氧化皮模式：可选。
多层模式：可选。
厚度范围 0.080 mm～635.00 mm，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。
材料声速范围 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
分辨率（可选择）
低分辨率：0.1 mm
标准分辨率：0.01 mm
高分辨率（可选项）：0.001 mm
探头频率范围
标准：2.0 MHz～30 MHz（–3 dB）
高穿透（可选项）：0.50 MHz～30 MHz（–3 dB）

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