镀层测厚仪

X荧光镀层测厚仪CMI900 /X-Strata 920
 

利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。

 

X-Strata镀层测厚仪是结构紧凑、坚固、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。

 

它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

 

镀层测厚仪X-Strata系列提供：

 

无损分析：无需样品制备

经行业认证的技术和可靠性

操作简单，只需要简单的培训

分析只需三步骤

的分析准确性和性

在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验

镀层测厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，质量的同时降低成本。