LGA110测试座苹果8硬盘测试架LGA110测试架测试治具夹具硬改

LGA110测试座 苹果8硬盘测试架 LGA110测试架测试治具夹具 硬改
型号: LGA110-1.6翻盖探针测试座产地: 中国大陆适用场景: 测试，老化，编程封装方式: LGA引脚间距: 1.6mm总尺寸 (含引脚): 11x14x1mm主体尺寸: 11x14x1mm引脚数: 110个测试座类型: 翻盖式
LGA110翻盖探针测试座

产品简介

1. 大小兼容设计，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同的LGA FLASH；

2. LGA测试座测试寿命可达20万次以上，是YAMAICHI和OKINS同类LGA SOCKET寿命的10倍以上；并且探针可更换，维修方便，成本低；

6. 采用手动翻盖式结构，操作方便；

7. 上盖的压板采用特殊结构，下压平稳，IC的压力均匀，不移位；

8. 的定位槽，LGA定位，生产；

9. 整机24小时工作性能稳定可靠，是FLASH经销商及U盘工厂好帮手！

10. 探针材料：铍铜(标准)；

11.绝缘材料：FR-4、PPS等；

产品功能

1. 对Flash进行清空及分类挑选。

2.对Nand Flash进行格式化，测试实际可以用容量。

3.对Flash进行直接量产，提高U盘生产效率。