PCT老化箱(又名PCT高压加速老化试验机)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。
是航空、汽车、家电、科研等领域的测试设备,用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。
老化试验箱有大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且利用钢化玻璃,随时清晰的观测箱内状况。
箱体保温采用超细玻璃纤维保温棉,可避免不必要的能量损失。箱体左侧配一直50mm的测试孔,可供外接测试电源线或信号线使用。换气的时间和次数可任意设置。
试验架二层,可以自由调节高度