德律TR5001,佛山二手TR-5001E服务至上

二手TR-5001E 运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。

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产品详情：
二手TR5001E ICT在线测试仪（二手德律TR-518FE）


产品说明
ICT在线测试仪是DL科技继成功推出TR518之后，运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试 速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
产品特色
电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC保护二极体之测试程式　
可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式
Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修
大型主机设计，高密度SwitchingBoard，高可达3584测试点
应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题

TR518FE是德律科技继成功推出TR518F之后，运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。



◆ 视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易

◆ 电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC

◆ 保护二极体之测试程式

◆ 电脑自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向

◆ 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式

◆ 完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据

◆ 系统具自我诊断功能及远端遥控功能

◆ Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修

◆ 高科技半导体CMOS Switching设计，无寿命限制，待测物安全性高

◆ 操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式

◆ 大型主机设计，高密度SwitchingBoard，可达3584测试点

◆ 可加装调整装置具动态调整装调整功能

◆ 多重安全性设计，确实保障操作人员率先引进TestJet Technology技术，检测SMT元件开路空焊问题，效果好

◆ 应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题

◆ 辅助学习模组可检测IC反向问题

◆ 漏电流量测方式可辅助检测电容容性达50-60%

◆ 选项功能强大，可针对同之测试需求，加装如频率量测、 电压量测、电流量测

◆ 具备1MHZ信号源，可量测小电容小电感

◆ 具三点量测模式，可量测电晶体FET、SCR等元件，并可对Photo-Coupler提供四点量测，确实检测上述元件 之反插问题

◆ 具Pin Contact检查功能


在线测试仪规格参数表

项 目

详 细 参 数

测试点数

标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点

大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点

测试步骤

步骤: 12288步骤,可依需求扩充

测试时间

开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT)

元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT)

测试范围

电阻:0.1Ω至40MΩ 电晶体/二极体: 0.1V至9.99V

电容:1.0PF至100mF Zener Diode: 标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V

电感:1.0UH至60H

隔离点电路

隔离点自动选择,每测试步骤5点

测试值上下限设定范围

上限:+1%至999% 下限:-1%至-99%

可测电路板尺寸

标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高)

选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做.

主控制电脑

Pentium等级以上PC

监视器

15〃夜晶显示器

记忆设备

3.5 1.44MB,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台

列印机

标准配备:微型印表机

*其它选购配备

Windows作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文）

Trace Level 图形显示检修软体。

网络连线及远端遥控维修，Bar Code Reader(Printer)Package,

Auto Test Program Generator,Data Transfer Generator

光电保护及多连板自动盖章功能

实装板程式烧录功能

*选项测试功能

HP TestJet功能：

可测IC数量：标准配备，64频道/MUX CARD

扩充，960频道 测试时间：2mSec/Pin

Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz

Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz

Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V

Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up

电源

AC100V-120V，200V-240V，50Hz-60Hz,350W

尺寸重量

OFF LINE TYPE: 960mm(宽)×850mm(深)×1530mm(高),约200Kg

IN LINE TYPE: 1000mm(宽)×720mm(深)×17200mm(高),约350Kg
规格
. 测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字)
. 作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7
. 测试治具 两段式压床
. 可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm
选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm

. 模拟硬件
1、六线式量测
2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源
3、AC/DC电压源, DC电流源量测
4、元件R/L/C量

. 选配硬件
。模拟测试
1、TestJet技术非向量式开路检测，任意波形产生器(AWG)
。数字测试
1、每脚位全新数位1:1非多工式驱动/接收比设计
2、待测板电源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A
3、可编程DUT电源: 25V@8A, 75V@2.5A
4、边界扫描, BGA Tree测试能力
5、支援快闪记忆体及EEPROM及MAC的在线烧录TR-5001E
选ICT 二手TR5001E