PCT老化箱(又名PCT高压加速老化试验机)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。
PCT老化箱内胆采用圆弧设计,复合容器标准,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制产品架。
试验箱采用荧光紫外灯为光源,通过模拟自然阳光中的紫外辐射和冷凝,对材料进行加速耐候性试验,以获得材料耐候性的结果。可模拟自然气候中的紫外、雨淋、高温、高湿、凝露、黑暗等环境条件,通过重现这些条件,合并成一个循环,并让它自动执行完成循环次数。ZN-P
通过考核对材料及其防护层的盐雾腐蚀的能力,以及相似防护层的工艺质量比较,同时可考核某些产品抗盐雾腐蚀的能力;该产品造用于零部件、电子元件、金属材料的防护层以及工业产品的盐雾腐蚀试验,根据试验需求可以分为:中性盐雾试验、酸性盐雾试验、铜加速醋酸盐雾试验。
老化试验箱采用国外的加热气流方法,解决了原转盘式的温度不均匀先天缺陷,同时大大提高了试样放置的安全性,有效空间利用率是原转盘式的200%以上,适用于电子元件,橡胶零部件等材料在高温下的老化适应性试验。新型老化试验箱采用LTDE可编程控制系统,在额定温度范围内可按工作需要进行程序升温-恒温-待机,操作人员设置好程序后,仪器即按程序工作,完毕后自动关机(待机)。
循环腐蚀试验以一种重复的循环周期将样板暴露在一系列不同的环境条件之中,Q-FOG腐蚀试验箱循环式腐蚀试验比传统的盐雾试验对材料的侵蚀作用更为接近自然