X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
X射线测厚仪的高压发生器与控制器(控制X射线的电流和电压)分成立的两个单元。高压发生器与KV电压电缆均置于C型架中,通过不带高压电的电缆与控制器连接,从而提高设备的安全性和系统的控制精度。
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技(仙桃)有限公司五家全资子公司和江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司两家控股子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司*从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
X射线测厚仪能用于检测各种镀层件,特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测,具备的检测优势。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
x射线荧光镀层测厚仪可以检测镀金层、镀镍层、镀锌层、镀铬层、镀银层、镀铜层、镀锡层的厚度。检测速度快随着科学技术的日益进步,特别是计算机技术的快速突破,x射线荧光镀层测厚仪也同时向着微型、智能、多功能、、实用化的方向发展。x射线测厚仪的测量分辨率已达到纳米级,精度更是有了大幅度的提高,且具有适用范围广泛,量程宽、操作简便且界面友好等特点.
由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统,因而应用广泛;在电子和半导体产业里,测量触点上薄金,铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中,分析贵金属合金组分。除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪,金镍厚度测量仪,孔铜测厚仪,面铜测厚仪,涂镀层测厚仪,台式涂层镀层测厚仪,铜箔测厚仪,绿油测厚仪,油墨测厚仪,各领域的测厚仪。
天瑞仪器能散X荧光光谱仪在合金中的测试精度如何?
答: 测试属于测试,完全可以满足客户的要求
天瑞仪器能散X荧光光谱仪(简称EDXRF)的工作原理是什么?
答: 通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集摄入到被测样品产生次级X射线,也就是通常我们所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后,经过放大,数模转换输入到计算机中,计算机计算出我们需要的结果