天瑞仪器X-ray测厚仪,天瑞仪器XRF测厚仪价格

X射线测厚仪具有信号噪音非常小的主要优点，根据厚度选择使用合适的X射线管电压等级，不同的电压等级产生的X射线的能量级可以对X射线管进行优化。此外，X射线在安全方面也同样优于同位素。在生产过程中，生产线断带和停机不可避免，在这种情况下，X射线可以通过关闭快门的方式切断X射线，有效防止电离辐射对人体的伤害，保护生产线上操作人员的安全。

X荧光镀层测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验，研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

X射线镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域；
技术指标
多镀层分析，1～5层；
测试精度：0.001 μm；
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)；
测量时间：10~30秒；
SDD探测器，能量分辨率为125±5eV；
探测器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射线管50kV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）；

是一款设计结构紧凑，模块精密化程度的镀层测厚仪，采用了下照式腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品涂镀层检测被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

x射线荧光镀层测厚仪可以检测镀金层、镀镍层、镀锌层、镀铬层、镀银层、镀铜层、镀锡层的厚度。检测速度快随着科学技术的日益进步，特别是计算机技术的快速突破，x射线荧光镀层测厚仪也同时向着微型、智能、多功能、、实用化的方向发展。x射线测厚仪的测量分辨率已达到纳米级，精度更是有了大幅度的提高，且具有适用范围广泛，量程宽、操作简便且界面友好等特点.