天瑞仪器重金属分析仪,rohs仪器天瑞

天瑞仪器有二十多年的ROHS检测设备研发和制造经验，产品系列型号，应用方法完善，售后服务体系遍布全国三十个省份。EDX1800B系列是天瑞仪器在ROHS领域的主导产品，应用新一代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。EDX1800B型ROHS检测设备对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测，检测环境里的重金属是否超标。

同时具有以下特点
快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。

天瑞EDX1800b可在两分钟的时间内对电子电器及塑胶等产品的铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）以及溴（Br）五种元素含量。天瑞仪器秉承“无微不至”的精神,采用新技术，特别设计EDX1800B型号的X射线荧光光谱仪。该系列产品在单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低采用行业的数字多道技术。优势：有效提高输出效率，实现计数率，采集有效计数率高可达1000Wcps，采用大功率X光管及的准直滤光系统，优势：激发效率更高，样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度，精密的定位系统 ，清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点，2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试，超小样品检测——小可测到0.2毫米。作为一种快捷方便的光谱分析方法，EDX1800B被于重金属四项和卤素含量的扫描测试。仪器配有相应标准样品。

rohs测试仪器EDX1800B是经济有效的检测设备，它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的监控之用。X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金属含量测试（铅、镉、铬、砷、锑、钡、汞、硒等）、包装物料的有毒元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71，测试结果度。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美，还大大节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前天瑞X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中的检测工具。

更准确的检测结果是天瑞人坚持不懈的追求，同时天瑞人还时刻牢记为客户提供更的服务。全新开发研制的EDX 3000D正是秉承了这一理念。它不仅继承了天瑞仪器EDX系列准确、快速、无损、直观及环保五大特点，同时EDX 3000D还采用了天瑞仪器专利产品的信噪比增强器进一步提升了检测结果的准确性。
性能特点
半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
自动滤光片选择
多种准直器自动自由切换
三重安全保护模式
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
样品腔自动开关
软件定位样品平台，小位移 0.01 mm
自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品
特别开发测量软件，操作界面十分友好
内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品
时尚的外型，带给您全新的视觉冲击
的自动移动平台，更方便地调节样品位置
采用天瑞仪器专利产品--信噪比增强器 SNE，大幅提高光谱仪测量的确定性和度
配合自动移动平台全新开发的样品定位系统，实现“点”哪测哪
鼠标轻点样品视图中需要检测部位，EDX 3000D 将移动样品至位置，完成检测。
产品指标

测试元素范围：S-U中的元素；

探测器类型：Si-PIN电制冷

探测器分辨率：145eV

高压范围：0-50kV，50W

X光管参数：0-50kV，50W侧窗类；

光管靶材：Mo靶；

滤光片：4种复合滤光片自动切换；

微移动范围：XY15mm

输入电压：AC220V，50/60Hz

开盖方式：随意自动停

测试样品种类：液体、固体和粉末

测量范围：1ppm—99.99%

测量用时：120-400秒

测试环境：非真空测试

RoHS检出限Pb≤5ppm，Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤50ppm，

准直器：1mm 2mm 4mm

优点:
1、分析速度高 测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。
3、非破坏分析在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
4、X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质属同一族的元素能进行分析。