为了进行可视化并得到特征的定量信息,成像系统须具备的成像衬度。即便面对具有挑战性的材料,如低原子序数材料、软组织、聚合物、包裹在琥珀中的化石生物以及其它低衬度材料等,蔡司Xradia Versa都可以提供灵活、高衬度的成像结果。
蔡司SmartShield 是保护您的样品和显微镜的简便解决方案,是蔡司“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan)控制系统中的一部分。只需轻松点击按钮,蔡司SmartShield就会在您的样品周围包裹一个数字化的防撞圈。这种自动化的解决方案让您可以放心地让样品更接近射线源和探测器。有了蔡司SmartShield,新用户和用户都可以体验到简洁的样品设置工作流和的蔡司Xradia Versa XRM 系统导航。
这些来自蔡司的特产品利用对X 射线物理原理和客户应用的深刻理解,以全新的创新方式解决一些极其困难的成像挑战。这些可选模块是基于工作站的解决方案,可轻松获取,简单易用。
蔡司OptiRecon
以快速、的算法为基础,在您的电脑桌面上操作即可进行迭代重建,使您的扫描时间提升至高达4 倍的速度,或在同样的通量下改善图像质量。OptiRecon 是一个经济的解决方案,可以为广泛的样品类别提供出色的内部断层扫描成像质量或快速的成像速度。
将蔡司原位接口套件添加到您的XRM 中,
来拓展更多的实验可能性。为了继续帮助突破科学进步的界限,蔡司Xradia Versa 已成功设计出业内的三维原位成像解决方案,适用于从高压流体驱替、拉伸、压缩装置和热台等多种多样的原位装置。
蔡司XRM 以其特的性能让的原位实验得以实现。这些研究要求样品远离X 射线源,以安放各种类型的原位装置。在传统的微米CT 系统中这一要求大大限制了样品能够达到的分辨率。蔡司X 射线显微镜采用特的两级放大架构和大工作距离高分辨率(RaaD)技术,确保高分辨率原位成像