一、UV-A双通道紫外辐照计用于高分子材料老化紫外辐照度测量产品介绍
UV-A 型紫外辐照计采用 SMT 贴片技术,选用低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定, 适用性强。
二、紫外辐射照度计产品特点
1、光谱及角度特性经严格校正
2、数字液晶显示,带背光
3、手动/自动量程切换
4、数字输出接口(USB,冗余供电)
5、低电量提醒
6、自动延时关机
7、有数字保持
8、轻触按键操作,蜂鸣提示
三、照度测量仪产品参数
1、 波长范围及峰值波长:
(1)UV-420 探头:λ:(375~475)nm;λP=420nm
(2)UV-365 探头:λ:(320~400)nm;λP=365nm
2、辐照度测量范围:(0.1~199.9×103) μW/cm2
3、紫外带外区杂光: UV420:小于 0.02%
UV365:小于 0.02%
4、相对示值误差:±8%(相对与 NIM 标准)
5、余弦特性(方向性响应)误差:±10%
6、线性误差:±1%
7、换档误差:±1%
8、短期不稳定性:±1%(开机 30min 后)
9、疲劳特性:衰减量小于 2%
10、零值误差:满量程的±1%
11、响应时间:1 秒
12、使用环境: 温度(0~40)℃,湿度<85%RH
13、 尺寸和重量:160mm×78mm×43mm;0.2kg
14、电源: 常规使用 6F22 型 9V 积层电池一只亦可使用数据线连接 USB 接口、5V 电源适配器供电
整机功耗 <0.1VA
该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
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