开封薄膜测厚仪结实,测厚仪器

激光束在被测物体表面上形成一个很小的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏面上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地其像点在光敏器件上的位置也要发生变化,进而可计算出被测物体的实际移动距离。

起初广泛使用的厚度测量工具是卡尺、螺旋测微器、测厚表等，但随着科技的进步、社会的发展，常用的测厚方法有射线测厚法、超声波测厚法、光学测厚法、机械测厚法等，虽然厚度检测方法众多，但从综合程度上看，在线测厚系统更多的还是采用激光测厚仪。

超声波测厚仪精度不够并且是接触式测量，对热轧、易变形物体都不易检测，并且不能进行在线检测，需要根据检测物体材质不同更换不同测头以免测量不准。

本公司生产多种型号和规格的测厚仪,从简单的厚度显示到输出厚调信号参予闭环调节等的测厚仪,实现对各种材质和范围的厚度测量。同时本着质量﹑用户至上的原则,对产品一律上门安装、调试、直到正常运行,提供有关技术资料,培训操作人员。

X射线测厚仪利用X射线管通电产生X射线作为信号源，根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换检测薄膜的厚度，它的特点是放射物质能量低，无需使用许可证，测量精度高，可测量透明或不透明材料，不受添加剂和色母料的影响，不受环境温度和薄膜抖动影响。

检测头采用电离室和电子前置放大器组成电离室检测头，离子室设计具有大空间，高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元，延长系统的使用寿命。