我们的综合解决方案采用了专属的吸收衬度增强探测器,尽可能地吸收低能量光子,同时尽可能地少吸收降低图像衬度的高能量光子,从而为您提供拥有出色衬度的成像结果。此外,可调节的传播相位衬度技术通过探测经过材料后产生折射的X 射线光子信号,可显示出那些吸收衬度很低甚至没有吸收衬度的特征。
界面保持了蔡司Xradia Versa 系统一如既往的灵活性,使您更容易设置各种扫描。“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan) 控制软件同时还可实现基于规程的可重复性,特别适用于原位和4D 研究,让您未来的科研工作更、更有序。
蔡司SmartShield 是保护您的样品和显微镜的简便解决方案,是蔡司“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan)控制系统中的一部分。只需轻松点击按钮,蔡司SmartShield就会在您的样品周围包裹一个数字化的防撞圈。这种自动化的解决方案让您可以放心地让样品更接近射线源和探测器。有了蔡司SmartShield,新用户和用户都可以体验到简洁的样品设置工作流和的蔡司Xradia Versa XRM 系统导航。
将蔡司原位接口套件添加到您的XRM 中,
来拓展更多的实验可能性。为了继续帮助突破科学进步的界限,蔡司Xradia Versa 已成功设计出业内的三维原位成像解决方案,适用于从高压流体驱替、拉伸、压缩装置和热台等多种多样的原位装置。
蔡司XRM 以其特的性能让的原位实验得以实现。这些研究要求样品远离X 射线源,以安放各种类型的原位装置。在传统的微米CT 系统中这一要求大大限制了样品能够达到的分辨率。蔡司X 射线显微镜采用特的两级放大架构和大工作距离高分辨率(RaaD)技术,确保高分辨率原位成像
您可以为所有的蔡司Xradia Versa 仪器选配原位接口套件,包括机械集成套件、坚固的布线导槽和其它设施(馈入装置),以及基于测试规程的软件,它能够简化蔡司“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan)用户界面中的操作。在蔡司Xradia Versa 上体验原位装置高水平的稳定性、灵活性和集成控制,得益于其光学架构设计,在变化的环境条件下不会牺牲分辨率。