激光束在被测物体表面上形成一个很小的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏面上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地其像点在光敏器件上的位置也要发生变化,进而可计算出被测物体的实际移动距离。
技术参数:
* 检测范围 0--600mm
* 钢板温度 0--1200°C
* 钢板速度 0--25m/s
* 采样时间 优于1ms
* 测量精度 动态优于±0.03%
* 安装方式 根据要求定制
本公司生产多种型号和规格的测厚仪,从简单的厚度显示到输出厚调信号参予闭环调节等的测厚仪,实现对各种材质和范围的厚度测量。同时本着质量﹑用户至上的原则,对产品一律上门安装、调试、直到正常运行,提供有关技术资料,培训操作人员。
X射线测厚仪利用X射线管通电产生X射线作为信号源,根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换检测薄膜的厚度,它的特点是放射物质能量低,无需使用许可证,测量精度高,可测量透明或不透明材料,不受添加剂和色母料的影响,不受环境温度和薄膜抖动影响。
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的,上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置,通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量,相对接触式测厚仪更,不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
在线测厚仪两个激光位移传感器的激光对射,被测体放置在对射区域内,根据测量被测体上表面和下表面的距离,计算出被测体的厚度。
的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地成像点在光敏器件上的位置也要发生变化