x射线镀银测厚仪

x射线荧光镀层测厚仪可满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。

天瑞镀层测厚仪是一款自动化程度很高的快捷膜厚测试设备，它可以用鼠标来控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加，良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。

x荧光镀层测试仪
产品配置：开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器，计算机及喷墨打印机。