Pheda动态CMOS平板探测器

Pheda 动态 CMOS 平板探测器 探伤仪 平板探测仪
低剂量，低的剂量获得更清晰的图像；
- 多档位，四档增益自由切换，满足不同应用场景；
- 大范围，宽动态范围，大可达 76dB;
- 全实时，全分辨率和全视野下的实时成像；
- 高标准，标准的 GigE Vision 协议；
- 适应性，支持 Binning 模式，满足复杂的工业应用需求；
Application 应用领域
- 芯片与印刷电路检测
- 精密铸件与锻件检测
- 汽车、航空领域质量控制
- 电池生产无损检测Pheda 动态 CMOS 平板探测器
低剂量，低的剂量获得更清晰的图像；
- 多档位，四档增益自由切换，满足不同应用场景；
- 大范围，宽动态范围，大可达 76dB;
- 全实时，全分辨率和全视野下的实时成像；
- 高标准，标准的 GigE Vision 协议；
- 适应性，支持 Binning 模式，满足复杂的工业应用需求；
Application 应用领域
- 芯片与印刷电路检测
- 精密铸件与锻件检测
- 汽车、航空领域质量控制
- 电池生产无损检测
- 管道探伤与焊点检测
- 管道探伤与焊点检测
丹东林帝提供