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良益LCL-4A椭圆偏振测厚仪
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- 2024-12-05 19:53:01
- 良益
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信息介绍
详细参数
良益LCL-4A椭圆偏振测厚仪产品介绍
手动椭圆偏振测厚仪使用消光法测量薄膜厚度和折射率；手动调节测试过程中的起偏和检偏角度。椭圆偏振法广泛地应用于固体基片上介质薄膜的测量。在己有测定薄膜厚度的方法中，它是能测量到薄和精度高的一类。
良益LCL-4A椭圆偏振测厚仪主要实验内容
1、了解并熟悉仪器的工作原理和性能
2、掌握如何利用设备测试样品的方法
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椭圆偏振测厚仪信息
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