日本三丰物镜378-825-5

日本三丰物镜378-825-5
显微镜
观察、测量和处理系统化的显微镜阵容
近红外辐射校正
M Plan Apo NIR/M Plan Apo NIR HR用于明视场观察
注:
这些物镜设计特，即便当所使用的波长在可视区(l=
480nm)至近红外区(l=1800nm)的任一范围内发生变化
时，也可在焦深范围内对工件图像进行聚焦。因此M
Plan NIR系列适用于激光修复。然而，当所使用的波长
超过1100nm时，由于玻璃色散和折射率的变化，聚焦
位置可能会稍微偏离可视区的位置
注:
这些近红外(l=1800nm)校正物镜可透过LCD玻璃(厚度
=1.1mm(378-827-5, 378-828-5, 378-752-5)或0.7mm
(378-829-5, 378-754-5))，适用于激光修复