供应实谱X荧光光谱仪厂家

利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。

X射线荧光分析仪是利用XRF技术解决复杂成份中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率；

标准配置
单样品真空腔体
计算机、打印机
SDD硅漂移探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
真空泵（可选）
压片机（可选）
工作环境：
1、设备合理的工作环境，是不要在有电机、振动、电磁、高压或有高频率烧电焊器的地方安装设备，这样会干扰我们设备或造成设备不能正常工作。
2、温度：恒温在250C左右，范围超过10C以上影响大，所以要在温度适合的地方做测试。建议采用空调房。
3、湿度：要在湿度均衡的地方做测试。不能超过90%的湿度。
4、灰尘容易腐蚀电路板，所以设备要保持干净，工作室也同样要保持干净。
5、雷电天气应关掉电源，因为闪电会直接影响设备的正常运作。
探测器系统：
美国Amptek SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比，佳分辨率：140±5eV；新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高，在合金检测中效果好。
美国Spellman高压电源：
输入电压: DC +24V±10%，输入电流：4.25A（大），输出电压: 0 -50KV & 1mA ，大功率：50W，电压调整率：0.01% （从空载到满载）
电流调整率：0.01% （从空载到满载），纹波电压：输出额定电压前提条件下，纹波电压的峰值为高输出电压的0.25%，8小时稳定性：≤0.05%。
散热系统：
机身前后有多个散热孔散热，机身内有3个风扇进行风冷，X光管进行涂层高温降热树脂后散热片包裹，再有1个风扇对其吹风散热。
真空系统：
低噪音快速抽真空泵，抽速快，20S即可达到真空测试要求，真空腔尺寸：100(W) ×100(H)mm，加配消音器。
防辐射系统：
软硬结合的防辐射设计，三重处理：X光管的特殊辐射处理、样品盖的双层铅皮包裹、软件的辐射预警（仪器工作中人员误操作开启样品腔时仪器会自动全部断电关机，操作人员安全），取得国家规定的辐射安全许可证，辐射剂量低于国家标准。