Agilent4155A+4155C+41501A半导体参数分析仪

Agilent4155A+4155C+41501A半导体参数分析仪周S
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The Agilent / HP 4155A Semiconductor Parameter Analyzer offers high-resolution accuracy and a wide range. With the Agilent / HP 4155A Semiconductor Parameter Analyzer you can improve your semiconductor quality from material evaluation and device characterization all the way through final packaged part inspection and field failure analysis.
Features and Specifications of the Agilent / HP 4155A Semiconductor Parameter Analyzer include:
I: 1 fA to 100 mA (20 fA offset accuracy)
V: 1 micro V to 100 V
Fully automated I-V sweep measurements with DC or Pulse Mode expandable up to 6 SMUs
Synchronized stress/measure function
Two high-voltage pulse generator units (+/- 40 V)
Time domain measurement: 60 micro s - variable intervals up to 10,001 points
Easy to use knob-sweep similar to curve tracer
Automatic analysis functions


备注：
我们的优势：
品种，货源充足，存库雄厚，服务快捷，维修能力强。
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我公司对销售的仪器仪表均负责保修一年.
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