供应HP4191A阻抗分析仪4191A Agilent4191A周玲
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射频阻抗计量器具检定系统
代替:高频阻抗量值传递系统
射频阻抗计量器具检定系统
本检定系统适用于射(高)频集总参数阻抗计量器具(即检测20kHz-1GHz频段的R,L,C元件和材
料电磁特性所有物仪器设备和量具、标准件),规定了射频(习惯上也称高频)集总参数阻抗量的量值
溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。
一、计量基准器具
1、高频集总参数阻抗的国家计量基准器具是指用于复现和保存20kHz-1000GHz高频阻抗量值(包括
电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率)的计量设备和量具。
2、射(高)频集总参数阻抗计量基准器具包括:
2.1空气介质同轴线阻抗基准,其阻抗量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用
校准按反射系数测量原理设计的高频阻抗精密测量装置。空气介质同轴线也是微波阻抗国家基准,本检
定系统移用它,有利于射(高)频、微波阻抗量值的统一。
在(1-1000)MHz频段,其技术指标为:
反射系数模值|г|:1.000±0.002;
相角:±180°±0.5°。
2.2高频阻高频阻抗精密测量装置,它是利用从美国引进的HP4191A高频阻抗分析仪,
经过准确度论
证分析,高频集总参数阻抗量的以下计量工作性能:
频率:(1-1000)MHz
反射系数模值|г|:1.000±(0.003-0.007)
相角θ:±180°±0.5°;
阻抗模值|Z|:1Ω-10kΩ±(0.5-10)%
电容C:10pF-100nF±(0.2-10)%;
电感L:10nH-100μH±(0.2-10)%
损耗:tgδ(D)0.001-0.5±<(0.002-0.05)
备注:
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