KW-TH-150F电子元器件高低温箱PCB恒温恒湿箱小型高低温湿热老化箱恒温恒湿箱

一、产品用途：
1.电子元器件小型高低温湿热老化测试设备特别适用于电子元器件、光纤、LED、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温、循环试验。高低温试验箱适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温环境下贮存、运输、使用时的适应性试验；高低温试验箱是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备；
二、结构特点:
1.电子元器件小型高低温湿热老化测试设备箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。
2.内箱采用进口不锈钢（SUS304）镜面板，外箱采用（SUS304）拉丝不锈钢板或冷轧钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。
3.设有大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。
4.箱体左侧配直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。
5.保温材质采用高密度玻璃纤维棉，厚度为80~100mm。门与箱体之间采用双层耐高低温之高张性密封条，以确保测试区的密封。
6.设有立限温报警系统，超过限制温度及自动中断运行，试验安全进行不发生意外。
7.符合GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008等现行国家标准。
三、控制器:
1.采用多款进口控制器，用户可以根据自身要求进行选择。
2.电子元器件小型高低温湿热老化测试设备科文自主研发的(KW-890)彩色触摸屏可程式温度控制器，中英文切换界面，操作简单。
3.高科技数显薄膜按键数据输入温度控制器，英文显示界面。
4.资料及试验条件输入后，控制器具有锁定功能，避免人为触摸而改变温度值。
5.高低温交变试验箱控制器具有P.I.D自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温度控制更为稳定。
6.可选配打印机，能打印记录设定参数和扫描出温度变化曲线。4~200mA标准信号。
7.传感器采用铂金电阻 PT100Ω/MV。
8.具有RS-232通讯界面，可在电脑上设计程式，监视试验过程并执行自动开关机等功能。
四、制冷、加热及风路循环系统:
1.制冷系统：选用全封闭法国泰康（或半封闭德国谷轮）压缩机。采用风冷单机压缩/风冷复叠压缩制冷方式。
2.加热系统：全立系统，镍铬合金电加热式加热器。
3.风路循环系统:采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。风路循环出风回风设计，风压风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间。4.电器控制系统：电器控制主件采用进口“施耐德”元件，更好的控制温度
5.升温、降温、系统完全立可提率，降低测试成本，增命，减低故障率。温度控制输出功率均由微电脑演算，以达及率用电效益。
五、规格型号(单位:mm:W×H×D)：
型号:KW-GD-80 内形尺寸：400×500×400 外箱尺寸：970×1360×970
型号:KW-GD-150 内形尺寸: 500×600×500 外箱尺寸：1070×1460×1070
型号:KW-GD-225 内形尺寸：500×750×600 外箱尺寸：1070×1610×1170
型号:KW-GD-408 内形尺寸: 600×850×800 外箱尺寸：1170×1710×1280
型号:KW-GD-800 内形尺寸：1000×1000×800 外箱尺寸：1550×1850×1300
型号:KW-GD-1000 内形尺寸：1000×1000×1000 外箱尺寸：1550×1850×1500
容积：80L 150L 225L 408L 800L 1000L
电子元器件小型高低温湿热老化测试设备温度范围：Z: 0～150℃ T:-20～150℃ F:-40～150℃ S:-70～150℃
温度均匀度：±2℃ （空载时）
温度波动度：±0.5℃ （空载时）
升温速率：1.0℃～3.0℃/min
降温速率：0.7℃～1.0℃/min
时间设定范围：1～9999 小时
注：以上产品外尺寸不包含部分，产品尺寸可按客户要求定做；
售后服务：厂家无偿提供安装调试及技术培训等服务。对设备整机免费保修壹年，终身维护。保修期内技术人员免费进行季度保养，以提升设备之使用寿命及对用户进行服务跟进。