X荧光测厚仪光谱仪X荧光分析仪
| 供应商 | 江苏天瑞仪器股份有限公司 店铺 |
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| 认证 | |
| 报价 | 面议 |
| 关键词 | 天瑞光谱仪,,,测厚仪 |
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| 所在地 | 中华园西路1888号 |
| 更新时间 | 2025-01-11 17:35:28 |
详细介绍
分析误差3%镀层范围0.005~50微米元素范围从硫到铀分析时间30秒
X射线镀层测厚仪是一种用于测量材料表面涂层厚度的仪器。工作原理是利用X射线穿透材料，通过测量X射线的透射率来确定涂层的厚度。这种仪器通常用于工业生产中的表面涂层质量控制和监测，可以帮助企业确保产品符合规定的涂层厚度要求，提高产品的质量和生产效率。
仪器配置
01 立的X/Y/Z轴控制系统
02 微焦斑X光管
03 可变高压电源
04 防撞板外加防撞激光保护检测器对仪器进行双重安全保护
05 Fast-SDD探测器
06 双激光定位装置
07 标配可自动切换的准直孔和滤光片
性能优势
1、结合镀层行业微小样品的检测需求,研发适用于镀层检测的超近光路系统,减少能量过程损耗。搭载的多导毛细管聚焦管,的提升了仪器的检测性能,聚焦强度提升1000~10000倍,更高的检测灵敏度和分析精度以及高计数率测试结果的性和稳定性。
2、全景区双相机设计,呈现全高清广角视野,让样品观察更全面;微米级别分辨率,更好的满足超微产品的测试,让测试更广泛更便捷。
3、的多导毛细管技术,信号强度比金属准直系统高出几个数量级。
4、多规格可选的多导毛细管,很好的满足用户不同测试需求。
5、XYZ轴移动测试平台,结合双激光点位定位系统,可实现在样品测试过程中的全自动化感受一键点击,测试更省心。
关键词：天瑞光谱仪,,,测厚仪