天瑞仪器X荧光光谱电镀测厚仪
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天瑞仪器X荧光光谱电镀测厚仪

供应商 江苏天瑞仪器股份有限公司 店铺
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电源电压 220v
关键词 天瑞光谱测厚仪,x荧光金属镀层测厚仪
手机号 13814856624
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所在地 中华园西路1888号
更新时间 2024-09-15 16:23:21

详细介绍

采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

X荧光镀层测厚仪是一种利用X射线荧光原理测量材料表面镀层厚度的仪器。其原理如下:

1. X射线照射:仪器通过产生X射线,将其照射到待测镀层表面。

2. 荧光发射:X射线照射到镀层表面后,会激发镀层中原子的电子跃迁,使其发生荧光发射。不同原子的荧光发射能谱是不同的,可以通过检测荧光发射的能谱来确定镀层中不同元素的含量。

3. 测量:根据镀层中不同元素的荧光发射能谱及其强度,可以计算出镀层的厚度。

通过这种原理,X荧光镀层测厚仪可以快速、准确地测量各种类型的镀层厚度,是一种常用的表面分析仪器。

镀金层厚度分析仪是一种用于测量金属表面上镀金层的厚度的仪器。它通常使用光学或X射线荧光等技术来测量金属表面上的金属层厚度,从而判断镀金层是否符合要求。

镀金层厚度分析仪具有、快速测量和非破坏性等特点,能够帮助生产厂家或检测机构准确地控制镀金层的厚度,确保产品的质量和性能。

使用镀金层厚度分析仪需要经过培训,掌握其操作方法和注意事项,以确保测量结果的准确性和可靠性。在使用过程中,还需要定期对仪器进行维护和校准,以保持其正常的工作状态。

关键词:天瑞光谱测厚仪,x荧光金属镀层测厚仪

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