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半导体测试探针的主要应用领域包括芯片设计验证、晶圆测试和半导体成品测试。它起着连接芯片/晶圆与测试设备，并进行信号传输的核心作用，对于半导体产品的质量控制具有重要意义。

可弹性探针是一个由螺旋弹簧组成的探针，其两端连接在上下柱栓上。螺旋弹簧的中间部分紧密缠绕在一起，以防止产生额外的电感和附件电阻。而弹簧的两端部分则被稀疏缠绕，以降低探针对被测试物体的压力。在检测集成电路时，信号会从下柱栓流向上方，形成导电路径。

垂直探针可以对应高密度信号触点的待测半导体产品的细间距排列，针尖接触待测半导体产品所需的纵向位移可以通过针体本身的弹性变形来提供。悬臂探针为探针部提供适当的纵向位移，用于通过横向悬臂接触待测半导体产品，以避免探针部对待测半导体产品施加过大的针压。

探针，作为一种精密的检测工具，在科学研究、工业制造、医学诊断等领域中扮演着至关重要的角色。它是一种能够与被测物体表面接触或非接触交互，从而获取物理、化学、生物等多方面信息的产品。其中，五孔探针的设计与应用广泛多样，从简单的机械触点到复杂的电子传感器，都在各领域发挥重要作用。

镀金探针废料的收集是回收过程的首要步骤。废料可以从电子制造厂、研究机构和废旧电子产品处理中心等渠道获取。收集过程需要与这些机构建立合作关系，确保废料的稳定供应。

在收集到的镀金探针废料中，可能包含其他金属和非金属杂质。因此，分拣是必要的步骤，以便将废料分类和分离。分拣可以通过人工或自动化设备进行。人工分拣需要经过培训的工作人员，他们根据废料的类型和特征进行分类。自动化设备可以通过传感器和图像识别技术自动分拣废料。

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