清远供应二手德律TR-5001E怎么样
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TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001 , SRC6001 , JET300NT,
ICT在线测试仪是德律科技继成功推出TR518F之后，运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试 速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
在线测试仪规格参数表
项 目
详 细 参 数
测试点数
标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点
大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点
测试步骤
步骤: 12288步骤,可依需求扩充
测试时间
开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT)
元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT)
测试范围
电阻:0.1Ω至40MΩ 电晶体/二极体: 0.1V至9.99V
电容:1.0PF至100mF Zener Diode: 标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V
电感:1.0UH至60H
隔离点电路
隔离点自动选择,每测试步骤5点
测试值上下限设定范围
上限:+1%至999% 下限:-1%至-99%
可测电路板尺寸
标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高)
选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做.
主控制电脑
Pentium等级以上PC
监视器
15〃夜晶显示器
记忆设备
3.5 1.44MB,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台
列印机
标准配备:微型印表机
*其它选购配备
Windows作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文）
Trace Level 图形显示检修软体。
网络连线及远端遥控维修，Bar Code Reader(Printer)Package,
Auto Test Program Generator,Data Transfer Generator
光电保护及多连板自动盖章功能
实装板程式烧录功能
*选项测试功能
HP TestJet功能：
可测IC数量：标准配备，64频道/MUX CARD
扩充，960频道 测试时间：2mSec/Pin
Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz
Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz
Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V
Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up
电源
AC100V-120V，200V-240V，50Hz-60Hz,350W
尺寸重量
OFF LINE TYPE: 960mm(宽)×850mm(深)×1530mm(高),约200Kg
IN LINE TYPE: 1000mm(宽)×720mm(深)×17200mm(高),约350Kg
工作电压：220V
配置：标配（320点）
成色：二手九成新
JET-300在线测试机（IN CIRCUIT TESTER）是经由量测电路板上所有零件，包括电阻、电容、电感、二极管、晶体管、FET、SCR、LED 和IC等，检测出电路板产品的各种缺点诸如：线路短路、断路、缺件、错件、零件不良或装配不良等，并明确地指出缺点的所在位置，帮助使用者确保产品的品质，并提高不良品检修效率。它还率先使用可用数亿次开关的磁簧式继电器（REED RELAY），是当今测试涵盖率*高，测试*稳定，使用*方便，提供资料*的在线测试机。
系统性能
JET-300在线测试机(IN CIRCUIT TESTER)是经由量测电路板上所有零件,包括电阻、电容、电感、二极体、电晶体、FET、SCR、LED 和IC等, 检测出电路板产品的各种缺点诸如 : 线路短路、断路、缺件、错件、零件不良或装配不良等, 并明确地指出缺点的所在位置, 帮助使用者确保产品的品质, 并提高不良品检修效率. 它还率先使用可用数亿次开关的磁簧式继电器(REED RELAY), 是当今测试涵盖率**, 测试稳定, 使用方便, 提供资料的在线测试机.
以下是JET-300的产品特性
硬体规格
REED RELAY的扫描板
JET300的扫描板採用了可二亿次的REED RELAY，解决了ICT 扫描板容易损坏的问题, 由于REED RELAY 的应用，使JET-300在性能上大有改善。诸如：
1.Zener diode 测试电压可达50v，所有测试点皆可使用。
2.小电容和小电感量测较准确和稳定，较不受温度的影响。
3.电容极性的可侦测率较用CMOS RELAY时大为提高。
4.可耐高压又有残存电压侦测功能，扫描板受到充分的保护。
5.配置功能测试的可行性较高。
