天瑞X射线荧光光谱仪,天瑞X射线荧光光谱仪色泽光润

性能参数

产品型号：EDX 4500
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA

X荧光光谱仪主要应用于钢铁检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素等）
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

标准配置

超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
钢铁行业测试配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的
90mm×70mm的液晶屏
真空泵

天瑞仪器公司是生产X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的、台式X荧光合金分析仪EDX4500H,融汇合金分析技术，配备智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。

半导体行业从原材料到生产制造都需要应用到分析测试仪器。天瑞仪器作为国内化学分析行业的者，从事光谱仪、色谱仪、质谱仪和环境检测仪器四大系列分析测试仪器的研发、生产、销售与服务。公司产品丰富，可广泛应用于芯片材料检测与质量控制。此次，天瑞仪器展出产品呈现了其在半导体材料领域的技术应用，吸引了多方关注，为半导体产业链的安全提供了技术和产品的保障。

“科学仪器行业企业”奖是仪器信息网创办的科学仪器行业年度评选奖项，迄今已成功举办十二届，是业内具有性的奖项之一。该奖项旨在表彰行业内具有影响力、公信力的企业，这些企业在公司发展、用户关注度、品牌度等方面表现。天瑞已连续数年夺得该奖项，此次，天瑞仪器不负所望再次获此殊荣。该奖项的获得，是对天瑞仪器的肯定，也是对天瑞仪器继续前行继续奋斗的激励。

与SGS对比差异的产生
答： 因为XRF是属于物理方法，是表面测试仪器，而SGS是采用化学方法,使用试剂溶解测试.从测试原理来讲，这两种方法是存在差异的，另外采用的检测设备是不同的。