x射线手持合金分析仪
新一代Genius XRF系列是针对在现场,野外进行X荧光分析的应用而设计,具有体积小,重量轻,普通人可手持测量的特点；产品超小,超轻,超美,超安全,超方便,超长待机时间,超防水,超准,超快等特点,并在小型X射线仪上引入了数字多道技术,使仪器检出限更好,稳定性更高,适用面更广。
天瑞手持式XRF系列产品包括有害元素分析仪Genius 3000XRF,合金分析仪Genius 5000XRF,矿石分析仪Genius 7000XRF,土壤重金属分析仪Genius 9000XRF等一系列型号,可充分满足从原料检测,生产过程控制到成品检验中各种元素成分的现场在线分析,金属材料的可靠性鉴别和合得奖号快速识别,土壤重金属现场检测,各类地质矿样的野外原位多元素分析等市场需求。
小功率端窗一体化微型光管,大面积铍窗SDD硅漂移探测器（世界上较好的探测器）及微型数字信号多道处理器三大核心技术的引入,大幅降低测试时间,提高检测精度,减少测试误差,使手持式仪器具有与台式相近的测试性能。小巧便携,操作快捷体积很小,便携,方便野外工作。随时随地,随心所欲的现场分析和原位分析。
直接测定无需制样
野外分析无需制备样品,可直接在待测物表面进行测定,可分析任何样品类型,包括电子电器产品,合金样品,地质矿产,土壤,岩石,泥土,残渣,固体小颗粒,液体沉积物等。
高清摄像头检测更加准确
内置高清晰摄像头,可以随时观察被测样品的测试位置,这一点情况在RoHS,地矿样品中犹为重要。
偏差校正轻松到位
2016年10月，工业和信息化部发布了三项机械行业标准，分别为JB/T 12962.1-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第1部分：通用技术》、JB/T 12962.2-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第2部分：元素分析仪》和JB/T 12962.3-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪》（以下简称“三项标准”）。三项标准将于2017年4月1日正式实施。这三项行业标准均由天瑞仪器起草撰写。
X射线荧光分析仪发展历史：
二十世纪七十年代末，我国引进能量色散X射线荧光光谱仪投入使用，到90年代我国已具备自主生产能量色散X射线荧光光谱仪的能力。经历了近30年的发展，到二十一世纪初我国能量色散X射线荧光光谱仪生产技术已日臻成熟。
