平谷LabVIEW改造,LabVIEW项目

使用NI VideoMASTER、labview开发功能完整，测试快速的Set-Top-Box 自动化测试系统
概述：使用NI VideoMASTER搭配NI-5122示波器，来完成影像测试需求;使用LabVIEW搭配NI-4472或NI-4461来完成声音测试需求。其他的测试项目，则选择适当的NI多功能资料撷取模组来快速的整合到测试系统中。在整合多种测试于同一测试平台上，NI提供了良好的解决方案。

Set-top-box 测试通常包括各类型影像与声音讯号的输出讯号品质测试，网路测试还有其他各类I/O测试等等。影像讯号包括分析影像于多种不同解析度，多种不同讯号介面(CAV，CVBS，S-Video)，较高阶的型号还需要HDMI 或其他数位介面。常见的测试项目有Average Picture Level(APL)，Bar Line Time，K Factor，Color Bars 等等。声音讯号测试包括类比和数位声音讯号测试，例如SPDIF。常见的测试项目有gain，noise level，SNR，THD，THD+N，SINAD 等等。

使用PXI 仪器、LabVIEW，与NI TestStand，将电子测试标准化
概述：采用PC与PXI仪器的NI硬体标准、NI TestStand，与LabVIEW软体，同时整合硬体/软体抽象软体化层，以提高度。

非通用测试平台的缺点
在我们待测试的产品中，大部分均为6 U 规格电路板的随插即用装置。每片电路板在整合之前，会先经过标准的预烧或耐电压测试阶段。整合之后，我们会测试随插即用电路板的功能，以确定是否达到预期的目标。
设计出能满足我们全面需求的测试平台
为了研发出通用的平台，我们针对装置复杂的产品进行测试，并且预留20% 的空间，使其不但能测试目前大部分的产品，更能满足未来的需求，如此一来便提高了这座平台的测试能力。
我们使用2 组机架来设计这座测试平台：1 个是通用的仪器控制机架，另1 个则是介接待测试产品的专属机架。通用仪控机架将整合1 组工业级PC，并可容纳大量的PCI 电路板，再连上2 组NI PXI 的18 槽式机箱、1 组铁轨应变调整(24 V ~ 110 V) 的讯号处理器、2 组可程式化的负载、1 个可调式电源供应器，与1 个电源供应器控制模组。2 组PXI 机箱均都包含1 组NI PXI-4070 – 6 位半数位电表、NI PXI-6602 计数器、4 组NI PXI-5412 任意波形产生器、NI PXI-6713 类比输出模组、NI PXI-2569 SPST 继电器模组、4 组NI PXI-2568 SPST继电器模组，与13 组NI PXI-2529 交点矩阵切换器。

由NI LabVIEW 与PXI 建置LGA 晶片模组接触点网格的自动化电阻地图
概述：以NI LabVIEW软体与PXI硬体为架构的量测，可以自动循环1组电阻测试点，进行2线式与4线式电阻量测；将结果对应至相等的资料结构，可以重建LGA的陈列，并展示资讯丰富的2D及3D图形。

积体电路晶片的输入/输出终止计数(Terminal count) 与密度不断提高，使得连结晶片至印刷电路板(PCB) 的过程变得挑战性。若要更换焊接的晶片，将整个电路板送回供应商，才能移除、更换，再连结。使用LGA 作为晶片模组与电路板之间的连结器，就能让连结不需经过焊接，故能解除连结状况。而且，LGA 可以让技术人员在现场直接更换，故能为使用者节省大量的时间与金钱。能的电脑与伺服器中的高密度晶片组，正是LGA 常见的应用实例。
为了确保电力连结与效能的稳定度，整个LGA 有均匀的力量分布。接触压力可能会有变化的现象，原因包含接触不良、晶片基板形貌(Topography)、防焊绿漆(Solder mask) 偏位、PCB 形貌、焊接点(Pad) 污染，以及类似的原因等。为了确认力量的分布情形在可接受的范围内，技术人员量测每个接触点的电阻。量测电阻资料的统计分布结果可以确认LGA 互连系统的有效度，糟的情况是，在遇到某些操作状况时，可以藉由找出开放电路来确认有效度。
确认LGA 互连系统的方法包含量测所有的接触点电阻，并以目视及数字分析一致性。使用者除了会遇到实际操作的困难之外(要为一小片晶片中的众多接触点量测电阻)，还以有意义的格式来收集资料，才能进行完整快速的分析。