测厚仪X-ray测厚仪XRF仪器

分析时间30秒分析误差3%镀层范围0.005~50微米元素范围从硫到铀

X射线镀层测厚仪是一种用于测量材料表面涂层厚度的仪器。工作原理是利用X射线穿透材料，通过测量X射线的透射率来确定涂层的厚度。这种仪器通常用于工业生产中的表面涂层质量控制和监测，可以帮助企业确保产品符合规定的涂层厚度要求，提高产品的质量和生产效率。

设计亮点
全新的下照式设计，一键式的按钮，减少摆放样品时间。全新的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头，配合距离补正算法，实现了对不规则样品(如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等)的异型测试面的测试。
人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注，让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。

多功能自动微区X荧光膜厚测试仪,既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析;搭载自动化的X/Y/Z轴的三维系统、双激光定位和保护系统,可多点位编程测试,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。