XRF金层膜厚测厚仪

荧光测厚仪的工作原理基于荧光现象。当探测器照射到被测材料表面时，材料中的原子吸收能量并发出特定波长的荧光。荧光的强度与材料的厚度有直接关系。通过分析荧光信号强度，仪器可以计算出材料的厚度。

产品名称：X射线镀层测厚仪
型号：Thick 800A
度适应范围为15℃至30℃。
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量般为ppm到99.9%
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
应用领域
金属镀层的厚度测试, 电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
X射线镀层测厚仪广泛应用于电子电器、五金工具、印刷线路板、电镀铝合金企业等。

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