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产品详情:
二手TR5001E ICT在线测试仪(二手德律TR-518FE)
产品说明
ICT在线测试仪是DL科技继成功推出TR518之后,运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试 速度较传统ICT快一倍以上。 此外,更具有可程式化开短路学习模式设定,满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程,无疑是一台抵两台的选择,无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
产品特色
电脑自动学习并自动产生,开/短路、Pin Information及IC保护二极体之测试程式
可网路连线,并结合资料库管理及测试站监控程式
Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置,方便检修
大型主机设计,高密度SwitchingBoard,高可达3584测试点
应用IC Clamping Diode技术,可辅助检测 BGA 开路空焊问题
TR518FE是德律科技继成功推出TR518F之后,运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外,更具有可程式化开短路学习模式设定,满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程,无疑是一台抵两台的选择,无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
◆ 视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易
◆ 电脑自动学习并自动产生,开/短路、Pin Information及IC
◆ 保护二极体之测试程式
◆ 电脑自动隔离点选择功能,自动判断信号源及信号流入方向
◆ 可网路连线,并结合资料库管理及测试站监控程式
◆ 完整测试统计资料及报表产生,且自动储存,不因断电而遗失数据
◆ 系统具自我诊断功能及远端遥控功能
◆ Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置,方便检修
◆ 高科技半导体CMOS Switching设计,无寿命限制,待测物安全性高
◆ 操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式
◆ 大型主机设计,高密度SwitchingBoard,可达3584测试点
◆ 可加装调整装置具动态调整装调整功能
◆ 多重安全性设计,确实保障操作人员率先引进TestJet Technology技术,检测SMT元件开路空焊问题,效果好
◆ 应用IC Clamping Diode技术,可辅助检测 BGA 开路空焊问题
◆ 辅助学习模组可检测IC反向问题
◆ 漏电流量测方式可辅助检测电容容性达50-60%
◆ 选项功能强大,可针对同之测试需求,加装如频率量测、 电压量测、电流量测
◆ 具备1MHZ信号源,可量测小电容小电感
◆ 具三点量测模式,可量测电晶体FET、SCR等元件,并可对Photo-Coupler提供四点量测,确实检测上述元件 之反插问题
◆ 具Pin Contact检查功能
在线测试仪规格参数表
项 目
详 细 参 数
测试点数
标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点
大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点
测试步骤
步骤: 12288步骤,可依需求扩充
测试时间
开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT)
元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT)
测试范围
电阻:0.1Ω至40MΩ 电晶体/二极体: 0.1V至9.99V
电容:1.0PF至100mF Zener Diode: 标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V
电感:1.0UH至60H
隔离点电路
隔离点自动选择,每测试步骤5点
测试值上下限设定范围
上限:+1%至999% 下限:-1%至-99%
可测电路板尺寸
标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高)
选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做.
主控制电脑
Pentium等级以上PC
监视器
15〃夜晶显示器
记忆设备
3.5 1.44MB,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台
列印机
标准配备:微型印表机
*其它选购配备
Windows作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文)
Trace Level 图形显示检修软体。
网络连线及远端遥控维修,Bar Code Reader(Printer)Package,
Auto Test Program Generator,Data Transfer Generator
光电保护及多连板自动盖章功能
实装板程式烧录功能
*选项测试功能
HP TestJet功能:
可测IC数量:标准配备,64频道/MUX CARD
扩充,960频道 测试时间:2mSec/Pin
Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz
Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz
Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V
Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up
电源
AC100V-120V,200V-240V,50Hz-60Hz,350W
尺寸重量
OFF LINE TYPE: 960mm(宽)×850mm(深)×1530mm(高),约200Kg
IN LINE TYPE: 1000mm(宽)×720mm(深)×17200mm(高),约350Kg
5001E满足电子产业中各类产品对测试环境不同之要求,所推出之全系列产品之一。其切换电路板乃应用且高寿命之机械式Reed Relay,适用模拟产品及高压电流之检测,并可整合动态量测 。而高密度之设计及软件技术,使TR518FR之测点可高达2560测试点,其速度亦较传统的ICT快80%以上。
5001E在线测试仪规格参数
测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点
测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充
测试时间 开路/短路测试:每1000点约1.5Sec(Typical DUT)
元件测试:每一元件约0.8mSec至30mSec(Typical DUT)
测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体: ±5V
电容:1.0PF至40mF Zener二极体: 标准配备,0.1V至48V
光电保护及多连板自动盖章功能
实装板程式烧录功能
*选项测试功能 Agilent TestJet功能:
可测IC数量:标准配备,64频道/MUX CARD
扩充,960频道测试时间:2mSec/Pin
Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz
Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz
Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V
Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up
气压零件 FESTO DNG-80-160(200)-PPV-A气压缸,下压力:290Kg/6Bar
FESTO DNG-100-160(200)-PPV-A气压缸,下压力:450Kg/6Bar
FESTO DNG-125-160(200)-PPV-A气压缸,下压力:720Kg/6Bar
工作气压 4-6Kg/C㎡耗气量:4 Liter/cycle
电源 AC100V-120V,200V-240V,50Hz-60Hz,350W
尺寸重量 OFF LINE TYPE: 960mm(宽)×850mm(深)×1530mm(高),约200Kg
IN LINE TYPE: 1000mm(宽)×720mm(深)×17200mm(高),约350Kg
TR5001E测试仪
二手TR5001E搭配两段式压床将可降低治具成本,此ICT为PCBAs测试之可扩充平台。TR5001E可以依客户的测试需求,提供经济的测试解决方案,并且可完全满足大多数客户之测试要求。TR5001E整合MDA和可选择性的ICT及Functional测试功能于同一平台,可以精简人力,缩短测试时间并提高产能。
二手ICT TR5001E特点
. 模组化升级选项,可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统
. 高测试覆盖率之解决方案
. 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充
. 人性化接口搭配快速又简单的程序发展
规格
. 测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字)
. 作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7
. 测试治具 两段式压床
. 可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm
选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm
. 模拟硬件
1、六线式量测
2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源
3、AC/DC电压源, DC电流源量测
4、元件R/L/C量
. 选配硬件
。模拟测试
1、TestJet技术非向量式开路检测,任意波形产生器(AWG)
。数字测试
1、每脚位全新数位1:1非多工式驱动/接收比设计
2、待测板电源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A
3、可编程DUT电源: 25V@8A, 75V@2.5A
4、边界扫描, BGA Tree测试能力
5、支援快闪记忆体及EEPROM及MAC的在线烧录TR-5001E
选ICT 二手TR5001E
宽频而准确的相位分离量测法
对于在RC或RL并联电路中的R.L.C. 可用相位测量法,分别量出其零件值,由于信号源频率宽广(100Hz到1MHz),因此可以侦测的范围优于一般的ICT,像下图线路中的零件都可以准确量测。
三端点、四端点量测
可对三端点的零件如 TRANSISTOR,DIGITAL TRANSISTOR,FET,SCR等。或四端点零件如 PHOTO COUPLER,做正确的测试,如有反插或零件损坏,必可测出。TRANSISTOR的β值也可量测。
电解电容极性测试
以三端点法侦测铝质电解电容极性反插,可测率****;以测漏电流方式侦测电解电容极性反插,可测率。
软体系统
JET-300拥有一般ICT的软体功能,无论是在测试前的程式制作支援软体, 或是测试后的不良资讯和资料分析,都有高水准的表现。在微软中文视窗环境下执行的系统程式,操作容易,功能强大。
差零件(焊点)
系统可列印出不良数多的零件(名)和不良次数多的焊点( 点)供厂商做品质控制或制程改善的参考。