PCT老化箱(又名PCT高压加速老化试验机)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。
PCT老化箱采用新优化设计,美观大方,做工精细。
采用大容量水箱,试验时间长,不中断。
采用日本“SHIMAX”智能温控器,具有精度高,控制稳定特点(依客户需要也可选择采用触摸屏为4.3寸真彩屏,USB曲线数据下载功能,和通讯功能)。
结构特点
☆试验室底座采用8#槽钢网式结构焊接,承载力强,能避免底部凹凸及开裂现象.
☆温度控制准确,精度高。由于采用了特的风道系统设计及电控系统,能保持整个房间温度高度均匀性,大大同类产品
☆内壁采用304不锈钢,外箱采用彩钢板,保温介质为聚氨酯硬质发泡,具有质轻隔热效果好等特点.
☆采用正压式天花板送风循环系统,温度均匀度和稳定度高.
☆系统保护功能,能确保安全长期稳定无故障运行.
☆外形美观,施工方便,施工周期短.
老化试验箱有大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且利用钢化玻璃,随时清晰的观测箱内状况。
箱体保温采用超细玻璃纤维保温棉,可避免不必要的能量损失。箱体左侧配一直50mm的测试孔,可供外接测试电源线或信号线使用。换气的时间和次数可任意设置。
试验架二层,可以自由调节高度
循环腐蚀试验以一种重复的循环周期将样板暴露在一系列不同的环境条件之中,Q-FOG腐蚀试验箱循环式腐蚀试验比传统的盐雾试验对材料的侵蚀作用更为接近自然
自我诊断功能,便于维护
内置自诊断装置可提示操作人员何时应进行例行维护,或对故障进行检查。带有一个个性化的面板控制器,它可使操作人员简单地对复杂的测试程序进行编程。
易于编制循环程序或直接运行Q-FOG自带的测试程序。可以完成许多循环腐蚀试验,如Prohesion试验、ASTM B117、ASTM G85、BS3900 F4和F9、DIN50.907和ISO9227等试验。内置以下全部或部分循环程序:
1、 循环A, ASTM B117(NSS)
2、 循环B, Prohesion
3、 循环C,CCT-1
4、 循环D,CCT-IV
5、 循环E,GM9540P/B
6、 循环F,ASTM B368(CASS)