济南供应ASA膜测厚仪多少钱一套

2023-06-14 05:47:24

机械式测厚仪是一种接触式测厚设备,多采用传感器,因为它的测试只和微小位移有关,所以对试样没有选择性。机械式测厚仪的测试精度主要取决于位移传感器的精度,环境温度和风速会影响传感器的精度,因此在实验室环境内使用。

膜厚测试仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。

台式的荧光X射线膜厚测试仪,是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性 。

X射线的能量穿过金属镀层的同时,金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理,我们设计出:膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪,又称金属涂镀层厚度测量仪,其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪,也是薄膜表层金属元素分析仪,因响应环保工艺准则,故市场上普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。

涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时,由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流,此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈,使其阻抗发生变化,此变化量与探头线圈离金属表面的距离(即覆盖层的厚度)有关,因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

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