盐城二手元件测试仪质量可靠,德律TR-5001E

随着现代制造技术的发展，超大规模集成电路的使用，编写器件的向量测试程序常常花费大量的时间，如80386的测试程序需花费一位熟练编程人员近半年的时间。SMT器件的大量应用，使器件引脚开路的故障现象变得更加。为此各公司非向量测试技术，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量测试技术。

TR5001E测试仪整合MDA和可选择性的ICT及Functional测试功能于同一平台,可以精简人力，缩短测试时间并提高产能。

TR5001E测试仪特点
• 模组化升级选项，可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统
• 高测试覆盖率之解决方案