EC-770漆膜涂层测厚仪
一、图片
二、产品特色
率先采用双核处理架构,32位ARM处理器,显著提升运算效率;
采用128*128高分辨率点阵液晶;
高可达10000微米超宽测量范围;
高可达1%精度;
大点阵液晶屏,标准化菜单操作;
超限红色背光报警;
屏幕旋转倒置功能;
两种测量模式:单次(Single)和连续(Continuous);
两种组模式:直接组(DIR)和通用组(GEN),一个直接组和四个通用组,每组可存储500个数据;一共2000个数据。
可零校准,拥有全自动校准算法,省去人工反复校准;
用户可随时查看当前工作组已测得的数据,并删除数据或整组数据;
实时显示当前工作组统计值:平均值(Mean),小值(Min),大值(Max),标准方差(Sdev);
三种探头模式: 自动(Auto)、磁感应(Magnetic)和涡流(Eddy Current);
可为各组单设置高低限报警值,超屏幕指示报警;
可开启或关闭自动关机功能;
USB接口可传输通用组数据到计算机;
低电和错误提示;
适合恶劣条件使用;
三、应用场景
本仪器能无损伤、快速、精密地进行涂、镀层厚度的测量。它能广泛应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域,是材料表面处理工程的仪器。它可以稳定地工作于实验室、车间现场和户外。
四、产品描述
EC-770涂层测厚仪,能同时测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等),以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高精密双探头,利用电磁感应和涡流效应,全自动探测基材属性,计算涂镀层厚度,并通过点阵液晶快速显示结果。同时,测量数据可分组保存,并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准。全新的零校准,让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单,确保您非常容易的使用它。
五、技术指标
1.测量原理:磁感应(F探头);涡流效应(N探头);
2.测量范围:F:0~2000um;N:2000um
3.测量精度(典型值):F:± (读数的2.5%+1um);N:± (读数的2.5%+1.5um)
4.分辨率:0um~99um(0.1um), 100um~2000um (1um),
5.校准:零点校准;
6.数据存储与分组:一个直接组(数据不保存)和四个通用组(数据可被保存),每组有单的统计,报警上下限设置和校准设置;
7.统计值:支持平均值、小值、大值和标准方差;
8.支持单位:um, mm, mils;
9.报警:用户可设置上下报警限,当发生报警时,液晶屏幕可显示提示;
10.小曲率半径:凸5mm,凹25mm;
11.小测量面积:直径20mm;
12.小基材厚度:0.2mm(F探头);0.05mm(N探头);
13.电脑接口:可通过USB口连接计算机下载数据;
14.电源:两节1.5V AAA电池;
15.操作温度:0~50℃;
16.保存温度:--10℃ to 60℃;
17.尺寸:110mm*53mm*24mm;
18.重量:92g;
六、型号对比
型号 EC-770 EC-770F EC-770N
探头 磁感应(F) 涡流效应(N) 磁感应(F) 涡流效应(N)
其他指标 测量原理:磁感应(F探头);涡流效应(N探头);
19.测量范围:F:0~2000um;N:2000um;
测量精度:F:± (读数的2.5%+1um);N:± (读数的2.5%+1um)
分辨率:0um~99um(0.1um), 100um~2000um (1um),
校准:零点校准;
数据存储与分组:一个直接组(数据不保存)和四个通用组(数据可被保存),每组有单的统计,报警上下限设置和校准设置;
统计值:支持平均值、小值、大值和标准方差;
支持单位:um, mm, mils;
报警:用户可设置上下报警限,当发生报警时,液晶屏幕可显示提示;
小曲率半径:凸5mm,凹25mm;
小测量面积:直径20mm;
小基材厚度:0.2mm(F探头);0.05mm(N探头);
电脑接口:可通过USB口连接计算机下载数据;
电源:两节1.5V AAA电池;
操作温度:0~50℃;
保存温度:--10℃ to 60℃;
尺寸:110mm*53mm*24mm;
重量:92g