UV-A紫外辐照计紫外用于光源辐照度测量

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 UV-A型紫外辐照计产品介绍

 采用SMT贴片技术,选用低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。

紫外辐射照度测量仪性能特点

  1、光谱及角度特性经严格校正

  2、数字液晶显示,带背光

  3、手动/自动量程切换

  4、数字输出接口(USB,冗余供电)

  5、低电量提醒

  6、自动延时关机

  7、有数字保持

  8、轻触按键操作,蜂鸣提示 

紫外辐射照度仪技术参数

项目

  


  参数(探头二选一,单通道)

  


  波长范围λ1,峰值波长λp

  


  (320~400)nm,λP=365nm

  


  波长范围λ2,峰值波长λp

  


  (375~475)nm,λP=420nm

  


  辐照度测量范围

  


  (0.1~199.9×103) μW/cm2

  


  紫外带外区杂光

  


  0.02%

  


  相对示值误差

  


  ±8%(相对于NIM标准)

  


  角度响应特性

  


  ±5% (α≤10°)

  


  线性误差

  


  ±1%

  


  换档误差

  


  ±1%

  


  短期不稳定性

  


  ±1%(开机30min后)

  


  疲劳特性

  


  衰减量<2%

  


  零值误差

  


  满量程的±1%

  


  响应时间

  


  <1秒

  


  使用环境

  


  温度(0~40)℃;湿度<85%RH

  


  尺寸和重量

  


  160mm×78mm×43mm;0.2kg

  


  电源

  


  6F22型9V积层电池(非充电电池)

  


  整机功耗

  


  <0.1VA

  


  配置清单

  


  主机、365或420探头二选一、数据线、探头盖、说明书、9V电池等 

单通道辐射照度计适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

特别说明:为保护客户的权益,我司不在网上做报价, 以上详情和图片以及价格仅供推广使用,如需了解更多技术参数以及报价请找发布人,根据不同客户需求有不同规格类型的产品供用户选

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