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日本日立HITACHI，高速缺陷观测设备，贵阳供应
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- 2019-04-01 16:45:22
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信息介绍
详细参数
供应日本日立HITACHI高速缺陷观测设备CR6300(Defect Review SEM) 的详细介绍
特长
高画质，高对此，高解析度SEM图像
高速缺陷摄像（ADR）
人性化的GUI
＜选项＞
自动缺陷分类（ADC）
Bare wafer自动观测
检查制程说明书（iPQ）
- 高速缺陷观测设备
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日立HITACHI信息
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