供应日本日立HITACHI高速缺陷观测设备CR6300(Defect Review SEM) 的详细介绍 特长 高画质,高对此,高解析度SEM图像 高速缺陷摄像(ADR) 人性化的GUI <选项> 自动缺陷分类(ADC) Bare wafer自动观测 检查制程说明书(iPQ)
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高速缺陷观测设备日立HITACHI西南HITACHI
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