(全新二手) Semilab Sopra LE-200PV ELLIPSOMETRE 椭偏仪售卖(二手).
Semilab Sopra LE-200 PV
Elipsomètre pour cellules photovoltaïques (2010)
PRESENTATION
Ellipsométrie à longueur d'onde unique
L'application majeure de l'Ellipsométrie à longueur d'onde unique sert à la caractérisation du revêtement antireflet. L'ellipsomètres laser Semilab LE-200 PV est adapté pour mesurer l'épaisseur du film et déterminer l'indice de réfraction à la longueur d'onde du laser HeNe (632,8 nm). Les couches antireflet qui ont été déposées sur des substrats en silicium monocristallin et multicristallin polis ou texturés peuvent également être mesurées.
La vente comprend uniquement ce qui est présent sur les photographies.
Si vous avez un doute sur un élément présent sur une photographie, merci de nous contacter.
!! N'hésitez pas à nous contacter pour plus de renseignement ou pour toute question. Faites nous une offre !
Semilab Sopra LE-200 PV
Elipsomètre pour cellules photovoltaïques (2010)
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Ellipsométrie à longueur d'onde unique
L'application majeure de l'Ellipsométrie à longueur d'onde unique sert à la caractérisation du revêtement antireflet. L'ellipsomètres laser Semilab LE-200 PV est adapté pour mesurer l'épaisseur du film et déterminer l'indice de réfraction à la longueur d'onde du laser HeNe (632,8 nm). Les couches antireflet qui ont été déposées sur des substrats en silicium monocristallin et multicristallin polis ou texturés peuvent également être mesurées.
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