高低温箱芯片高低温湿热老化箱高温高湿老化试验箱

高低温箱芯片高低温湿热老化箱 高温高湿老化试验箱
芯片高低温老化测试箱又名芯片高低温老化箱、芯片高低温循环试验箱、芯片高低温试验箱、芯片可程式高低温试验箱等。芯片高低温老化箱主要适用于电路芯片、芯片、IC卡等各类相关产品，对其进行高低温恒定和渐变、突发、耐热、耐寒、耐干燥等环境模拟的可靠性及适应性。根据试验方法与行业标准可分为“循环试验”和“温度试验”，两种试验方法都是在高低温测试箱的基础上进行升级拓展，可编程高低温循环试验箱是指可以一次性将需要做的高温、低温、时间设定在仪表参数内，试验箱会按照设定走程序，LCD高低温试验箱就是在做一个固定的温度，使试验效果更接近自然气候，模拟出更恶劣的自然气候，从而使被测样品的可靠性更高。
当然，科文生产的高低温老化测试箱不仅仅只有适用于芯片的型，同时还可适用于以下产品及材料：光电光纤、电子电器、电池、线路板、PCB电路板、电路线材、电路芯片、电子电器、塑胶塑料、航空航天、半导体照明、LED照明电器、LED灯具、光电通讯、汽车零部件、电脑零配件、电线电缆、金属五金、化工涂料、不干胶、纸品印刷、建材等等。
芯片高低温老化测试箱的产品特色：
微电脑无段式冷媒流量伺服控制调温系统，以PID+Fuzzy方式控制冷媒流量，使系统之加热减量，达到低耗能、节能、减碳效果。制冷、制热电子化智能控制，能长期稳定的使用。
☆同容积同行业可承受较大发热负载（可放置较多待测品）
☆全自动配合待测品负载量控制压缩机冷媒流量达到省电目的
☆同行业数量多机台安全保护侦测点
规范要求：
a.可执行规范所要求之结露与不结露试验条件
b.执行待测品不结露试验温度同步斜率控制技术
c.可执行结露试验前的干燥阶段试验条件
与传统机型比较如下：
A.噪音数值：约60db（距机台正面1M量测）
B.反应速度：可省时50%以上
C.节能省电：平均约省电45%（大省电约70%）

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