VeEXTX300S100G综合测试仪

厂家：VeEX
产地：美国 产品描述
VeEX TX300S是目前小巧的100G测试仪，小巧的机身支持从2M到100G的全部速率，是运营商网络系统真正的 all in one测试解决方案，身材纤细，功能强大，适用于高速传输网、电信级以太网、移动回程网络以及传统网络等多种测试场合，赢得广泛赞誉的新一代100G测试平台。

TX300S 100G测试仪支持FE/GE/10GE/ 40GE/100GE，OTU1,OTU2,OTU3和OTU4，STM-1/4/16/ 64/256，CPRI 1/2/3/4/5/6/7以及Fiber Channel 1/2/4/8/10G等各种传输技术的测试，其灵活便捷的软硬件体系结构配置，可以满足用户的多种需求，7寸触摸屏，带电池重量仅为2.5Kg。
平台亮点

直观图形化操作界面
高分辨率彩色触摸屏可在复杂环境下操作
对现场工程师或技术人员安装和维护OTN和SDH传输网以及下一代移动回程网络测试过程进行了优化
灵活的软件平台允许同时运行多个测试应用
通过10/100BASE-T接口，WiFi，蓝牙连接仪表可方便进行后台应用系统和用工量的管理
原子钟用于高稳定度的应用，可1ppb的精度
可选的GPS接收器用于单向时延测试，并可以作为一个参考时钟源
通过RS232C接口连接一个外接的GPS设备，用来接收ToD和1PPS同步时钟




OTN/SDH/PDH（支持100G/OTU4速率）
支持112G CFP4接口和QSFP+ 43G接口以及QSFP+ STL256.4
支持OTN测试，支持速率OUT-0/1/2/1e/2e
支持SDH/SONET测试，速率STM-0/1/4/16/ 64和OC1/3/12/48/192
支持PDH测试，E1/E2/E3；DS1/DS3/E4
支持E1, E3和DS1, DS3非侵入式的脉冲模板分析
光功率，电接口信号电平，频率测试
通道踪迹和指针生成和分析
APS测试，环路时延，开销监测和字节解码，级联监测
抖动漂移分析 (E1, E3, DS1, DS3 和STM-1o, OC-3)
以太网/光纤通道测试（高支持100GE）
支持100GE CFP4接口和QSFP+ 40GE接口
双10GE LAN / WAN XFP端口，双100Base-FX / 1000Base-X SFP端口，双10/100/1000Base-T RJ45 端口
支持用于SAN网络的1G/2G/4G/8G/10G 光纤通道测试
支持RFC2544测试
V-SAM 测试包符合ITU-T Y.1564 标准
IPv4 和 IPv6 数据流产生
支持IEEE 802.3ah，ITU-T Y.1731，IEEE 802.1ag，和MPLS-TP OAM，支持Q-in-Q（VLAN 堆栈）和多种MPLS 标签